• 集成电路测试技术

  
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/武乾文主编

ISBN/ISSN：978-7-121-44351-0 精装

价格：CNY128.00

出版：北京 :电子工业出版社 ,2022

载体形态：xvii, 329页 :图 ;25cm

丛编：集成电路系列丛书

附注：工信学术出版基金 集成电路产业知识赋能工程

简介：本书共分10章，内容包括：集成电路测试概述、数字集成电路测试技术、模拟集成电路测试技术、数模混合集成电路测试技术、射频电路测试技术、SoC及其他典型电路测试技术、集成电路设计与测试的链接技术、测试接口板设计技术、集成电路测试设备、智能测试。

并列题名：Integrated circuit testing technology

中图分类号：TN407

责任者：武乾文 主编 杨雪冰 译 吴雅婧 译

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