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集成电路测试技术
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/武乾文主编
ISBN/ISSN：978-7-121-44351-0 精装
价格：CNY128.00
出版：北京 :电子工业出版社 ,2022
载体形态：xvii, 329页 :图 ;25cm
丛编：集成电路系列丛书
附注：工信学术出版基金 集成电路产业知识赋能工程
简介：本书共分10章，内容包括：集成电路测试概述、数字集成电路测试技术、模拟集成电路测试技术、数模混合集成电路测试技术、射频电路测试技术、SoC及其他典型电路测试技术、集成电路设计与测试的链接技术、测试接口板设计技术、集成电路测试设备、智能测试。
并列题名：Integrated circuit testing technology
中图分类号：TN407
责任者：武乾文 主编 杨雪冰 译 吴雅婧 译
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豆瓣内容简介：
本书全面、系统地介绍了集成电路测试技术。全书共分 10 章，主要内容包括：集成电路测试概述、数字集成电路测试技术、模拟集成电路测试技术、数模混合集成电路测试技术、射频电路测试技术、 SoC 及其他典型电路测试技术、集成电路设计与测试的链接技术、测试接口板设计技术、集成电路测试设备、智能测试。书后还附有详细的测试实验，可有效指导读者开展相关测试程序开发实验。
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