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系统芯片(SoC)验证方法与技术
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系统芯片(SoC)验证方法与技术 /(美)Prakash Rashinkar, (美)Peter Paterson,(美)Leena Singh著 ;孙海平，丁健译
ISBN/ISSN：7-121-00589-1
价格：CNY29.00
出版：北京 :电子工业出版社 ,2005
载体形态：12,263页 ;26cm
简介：本书从最高层次的系统级验证直至最终的物理实现和签付，详细介绍了各种设计抽象级别和各阶段所涉及到的各种验证方法及工具。
并列题名：System-on-a-Chip Verification Methodology and Techniques
中图分类号：TN407
责任者：拉申卡尔 著 佩特森 著 辛格 著 孙海平 译 丁健 译 金鑫 译
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