• 集成电路芯片测试

  
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/主编王芳, 徐振

ISBN/ISSN：978-7-308-12976-3

价格：CNY29.00

出版：杭州 :浙江大学出版社 ,2014

载体形态：182页 :图 ;26cm

附注：十一五浙江省重点教材建设项目

简介：本书主要从集成电路测试从业人员所需的职业道德、C语言、自动分选机、测试机系统及应用以及常用的仪器元件、常见产品测试实例等几个方面着手，系统地阐述了成品测试的重要组成步骤，介绍集成电路封装测试岗位培训的必修知识。

中图分类号：TN407

责任者：王芳 主编 徐振 主编 贺雅娟 译 罗萍 译 乌日娜 (1953-) 译

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