| 字段 | 字段内容 |
|---|---|
| 001 | 0100022221 |
| 005 | 20050706162512.0 |
| 010 | $a: 7-121-00589-1$d: CNY29.00 |
| 035 | $a: 002810039 |
| 100 | $a: 20050104d2005 em y0chiy0110 ea |
| 101 | $a: chi$c: eng |
| 102 | $a: CN$b: 110000 |
| 105 | $a: y z 000yy |
| 106 | $a: r |
| 200 | $a: 系统芯片(SoC)验证方法与技术$9: xi tong xin pian (SoC) yan zheng fang fa yu ji shu$f: (美)Prakash Rashinkar, (美)Peter Paterson,(美)Leena Singh著$g: 孙海平，丁健译 |
| 210 | $a: 北京$c: 电子工业出版社$d: 2005 |
| 215 | $a: 12,263页$d: 26cm |
| 305 | $a: 美国Kluwer Academic Publishers授权出版 |
| 330 | $a: 本书从最高层次的系统级验证直至最终的物理实现和签付，详细介绍了各种设计抽象级别和各阶段所涉及到的各种验证方法及工具。 |
| 510 | $a: System-on-a-Chip Verification Methodology and Techniques$z: eng |
| 606 | $a: 芯片 |
| 690 | $a: TN407$v: 4 |
| 701 | $c: (美)$a: 辛格$9: xin ge$c: (女， Singh, Leena)$4: 著 |
| 702 | $a: 丁健$9: ding jian$c: (翻译)$4: 译 |
| 801 | $a: CN$b: NLC$c: 20050317 |
| 905 | $a: BUCTL$b: C722743-9$r: CNY29.00$d: TN407$e: 1 |
| 999 | $a: tian$b: 7$e: 200521 |
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