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集成电路测试指南
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/加速科技组编 ;邬刚, 王瑞金, 包军林编著
ISBN/ISSN：978-7-111-68392-6
价格：CNY99.00
出版：北京 :机械工业出版社 ,2021
载体形态：XIII, 257页 :图 ;24cm
简介：本书将半导体集成电路测试原理与实际测试实现过程相结合，内容涵盖半导体集成电路测试流程，测试原理及集成运算放大器、电源管理芯片、电可擦除编程只读存储器芯片、微控制器芯片、数模转换芯片等产品的测试实例。
中图分类号：TN407
责任者：邬刚 编著 王瑞金 编著 包军林 编著 加速科技
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豆瓣内容简介：
《集成电路测试指南》将半导体集成电路测试原理与实际测试实现过程相结合，内容涵盖半导体集成电路测试流程，测试原理以及集成运算放大器、电源管理芯片、电可擦除编程只读存储器芯片、微控制器芯片、数模转换芯片等产品的测试实例。
《集成电路测试指南》的特点是理论与实践相结合，避免了“纸上谈兵”。
通过学习《集成电路测试指南》，读者可以对集成电路测试有一个全面的认识，从而快速进入半导体集成电路测试工程领域。《集成电路测试指南》的主要读者是即将从事集成电路测试工作的工程师和大学或职业教育领域相关专业的学生。
豆瓣作者简介：
目录：
序一
序二
序三
前言
第一篇 集成电路测试及测试系统简介
第1章 集成电路测试简介
1．1 集成电路测试的分类
1．1．1 集成电路测试分类
1．1．2 CP测试流程及设备
1．1．3 FT测试流程及设备
1．2 IC测试项目
1．3 产品手册与测试计划
1．3．1 产品手册
1．3．2 测试计划
1．4 测试程序
1．4．1 测试程序的分类
1．4．2 量产测试程序的流程
1．4．3 分类筛选
第2章 集成电路测试系统
2．1 模拟IC测试系统
2．2 数字IC测试系统
2．2．1 数字测试系统的组成
2．2．2 PMU的原理与参数设置
2．2．3 引脚电路的组成和原理
2．3 混合IC测试系统
2．3．1 模拟子系统与数字子系统
2．3．2 测试同步
2．4 ST2500高性能数模混合测试系统
2．4．1 ST2500硬件资源
2．4．2 环境要求
2．5 ST-IDE软件系统
2．5．1 ST-IDE软件界面
2．5．2 基于ST-IDE的测试程序开发流程
2．5．3 工厂界面
2．6 集成电路测试工程师实训平台
2．6．1 实验产品
2．6．2 教学实验板的使用
第二篇 集成电路基本测试原理
第3章 直流及参数测试
3．1 开短路测试
3．1．1 开短路测试的目的和原理
3．1．2 开短路测试的方法
3．1．3 开短路的串行与并行测试
3．2 漏电流测试
3．2．1 漏电流测试的目的
3．2．2 漏电流测试方法
3．2．3 漏电流测试的串行与并行
3．3 电源电流测试
3．3．1 电源电流测试的目的
3．3．2 IDD测试方法
3．4 直流偏置与增益测试
3．4．1 输入偏置电压测试
3．4．2 输出偏置电压
3．4．3 增益测试
3．5 输出稳压测试
3．6 数字电路输入电平与输出电平测试
3．6．1 输入电平（VILIVIH）测试
3．6．2 输出高电平（VOHIIOH）测试
3．6．3 输出低电平（VOLIIOL）测试
3．6．4 输出电平的功能测试方法
第4章 数字电路功能及交流参数测试
4．1 测试向量
4．2 时序的设定
4．2．1 时序的基本概念
4．2．2 定义时序与波形格式
4．3 引脚电平的设定
4．4 动态负载测量开短路
第5章 混合信号测试基础
……
第三篇 模拟集成电路测试与实践
第四篇 数字集成电路测试与实践
第五篇 混合集成电路测试与实践
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附录 技术术语中英文对照表
