| 字段 | 字段内容 |
|---|---|
| 001 | 01h1328022 |
| 005 | 20240328101029.0 |
| 010 | $a: 978-7-111-68392-6$d: CNY99.00 |
| 100 | $a: 20210702d2021 em y0chiy50 ea |
| 101 | $a: chi |
| 102 | $a: CN$b: 110000 |
| 105 | $a: a z 000yy |
| 106 | $a: r |
| 200 | $a: 集成电路测试指南$A: ji cheng dian lu ce shi zhi nan$f: 加速科技组编$g: 邬刚, 王瑞金, 包军林编著 |
| 210 | $a: 北京$c: 机械工业出版社$d: 2021 |
| 215 | $a: XIII, 257页$c: 图$d: 24cm |
| 330 | $a: 本书将半导体集成电路测试原理与实际测试实现过程相结合，内容涵盖半导体集成电路测试流程，测试原理及集成运算放大器、电源管理芯片、电可擦除编程只读存储器芯片、微控制器芯片、数模转换芯片等产品的测试实例。 |
| 606 | $a: 集成电路$A: ji cheng dian lu$x: 电路测试$j: 指南 |
| 690 | $a: TN407$v: 5 |
| 701 | $a: 包军林$A: bao jun lin$4: 编著 |
| 712 | $0: 2$a: 加速科技$A: jia su ke ji$4: 组编 |
| 801 | $a: CN$b: BUCTL$c: 20240328 |
| 905 | $d: TN407$r: CNY99.00$e: 10 |
北京创讯未来软件技术有限公司 版权所有 ALL RIGHTS RESERVED 京ICP备 09032139
欢迎第107751962位用户访问本系统