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现代集成电路测试技术
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/《现代集成电路测试技术》编写组 [编]
ISBN/ISSN：7-5025-8131-6
价格：CNY95.00
出版：北京 :化学工业出版社 ,2006
载体形态：540页 :图 ;26cm
简介：本书分为上、下篇。上篇主要介绍数字VLSI结构化测试方法、数模混合信号电路测试方法、设计验证技术和集成电路测试标准；下篇重点介绍数字/模拟/数模混合信号等三种类型集成电路测试系统和集成电路测试验证系统等。
中图分类号：TN407
责任者：时万春 主编 秦江敏 编译 熊素铭 译
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豆瓣内容简介：
全书分上下篇，上篇主要介绍了数字VLSI结构化测试方法、数模混合信号电路测试方法、设计验证技术和集成电路测试标准等内容，下篇重点介绍了数字／模拟／数模混合信号等三种类型集成电路测试系统和集成电路测试验证系统等内容，并特别关注了以SOC测试、基于DFT测试、RAM测试为主要特点的新类别测试系统和基于标准总线集成电路测试系统的发展，本书可作为从事微电子测试和设计工作的研究人员、技术人员，以及准备进入该领域的管理人员的学习和培训教材，也可作为高等院校相关专业师生的教材和参考书。
全书按集成电路测试原理和集成电路测试设备划分为上、下篇。根据现代集成电路测试技术发展和专业测试需求，上篇主要介绍数字VLSI结构化测试方法、数模混合信号电路测试方法、设计验证技术和集成电路测试标准；下篇重点介绍数字／模拟／数模混合信号等三种类型集成电路测试系统和集成电路测试验证系统，同时特别关注了以SOC测试、基于DFT测试、RAM测试为主要特点的新类别测试系统和基于标准总线集成电路测试系统的发展，并安排了测试系统计量和自动分选机／探针测试台两个专题。
本书可作为从事微电子测试和设计工作的研究人员、技术人员，以及准备进入该领域的管理人员的学习和培训教材，也可作为高等院校相关专业师生的教材和参考书。
豆瓣作者简介：
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