| 字段 | 字段内容 |
|---|---|
| 001 | 01h0007489 |
| 005 | 20100604082039.0 |
| 010 | $a: 7-5025-8131-6$d: CNY95.00 |
| 100 | $a: 20091204d2006 em y0chiy0121 ea |
| 101 | $a: chi |
| 102 | $a: CN$b: 110000 |
| 105 | $a: ak a 001yy |
| 106 | $a: r |
| 200 | $a: 现代集成电路测试技术$A: xian dai ji cheng dian lu ce shi ji shu$f: 《现代集成电路测试技术》编写组 [编] |
| 210 | $a: 北京$c: 化学工业出版社$d: 2006 |
| 215 | $a: 540页$c: 图$d: 26cm |
| 314 | $a: 本书主编时万春 |
| 320 | $a: 有书目和索引 |
| 330 | $a: 本书分为上、下篇。上篇主要介绍数字VLSI结构化测试方法、数模混合信号电路测试方法、设计验证技术和集成电路测试标准；下篇重点介绍数字/模拟/数模混合信号等三种类型集成电路测试系统和集成电路测试验证系统等。 |
| 606 | $a: 集成电路$A: ji cheng dian lu$x: 测试 |
| 690 | $a: TN407$v: 4 |
| 701 | $a: 时万春$A: shi wan chun$4: 主编 |
| 801 | $a: CN$b: BUCTL$c: 20091204 |
| 905 | $a: BUCTL$r: CNY95.00$d: TN407$e: 2$d: TN407$e: 2 |
北京创讯未来软件技术有限公司 版权所有 ALL RIGHTS RESERVED 京ICP备 09032139
欢迎第35602681位用户访问本系统