| 字段 | 字段内容 |
|---|---|
| 001 | 01h1342236 |
| 005 | 20231201091526.0 |
| 010 | $a: 978-7-122-41269-0$b: 精装$d: CNY168.00 |
| 100 | $a: 20220817d2022 em y0chiy50 ea |
| 101 | $a: chi |
| 102 | $a: CN$b: 110000 |
| 105 | $a: ak a 000yy |
| 106 | $a: r |
| 200 | $a: 颗粒表征的光学技术及应用$A: ke li biao zheng de guang xue ji shu ji ying yong$d: = Optical technology and applications of particle characterization$f: 许人良著$z: eng |
| 210 | $a: 北京$c: 化学工业出版社$d: 2022 |
| 215 | $a: 412页$c: 图$d: 24cm |
| 314 | $a: 许人良, 1972年中学毕业后即进入颗粒分析测试行业。1982年毕业于复旦大学, 之后前往美国留学, 获得硕士、博士与工商管理硕士学位。 |
| 320 | $a: 有书目 |
| 330 | $a: 本书系统总结了颗粒测量的基本原理和各种表征方法, 包括光散射技术, 以及光学计数法、激光粒度法、光学图像分析法、颗粒跟踪分析法、动态光散射法和电泳光散射法等, 涵盖了近年来的技术发展以及市场上新型的仪器产品, 对每种技术相关的仪器构造与使用、数据采集与结果分析进行了详细说明。关于颗粒表征的标准化也进行了专门的介绍。 |
| 510 | $a: Optical technology and applications of particle characterization$z: eng |
| 606 | $a: 颗粒$A: ke li$x: 测量$x: 研究 |
| 690 | $a: O572.21$v: 5 |
| 701 | $a: 许人良$A: xu ren liang$4: 著 |
| 801 | $a: CN$b: BUCTL$c: 20231122 |
| 905 | $d: O572.21$r: CNY168.00$e: 10 |
北京创讯未来软件技术有限公司 版权所有 ALL RIGHTS RESERVED 京ICP备 09032139
欢迎第39969561位用户访问本系统