= Optical technology and applications of particle characterization /许人良著
ISBN/ISSN:978-7-122-41269-0 精装
价格:CNY168.00
出版:北京 :化学工业出版社 ,2022
载体形态:412页 :图 ;24cm
简介:本书系统总结了颗粒测量的基本原理和各种表征方法, 包括光散射技术, 以及光学计数法、激光粒度法、光学图像分析法、颗粒跟踪分析法、动态光散射法和电泳光散射法等, 涵盖了近年来的技术发展以及市场上新型的仪器产品, 对每种技术相关的仪器构造与使用、数据采集与结果分析进行了详细说明。关于颗粒表征的标准化也进行了专门的介绍。
并列题名:Optical technology and applications of particle characterization
中图分类号:O572.21
责任者:许人良 著 吴国栋 主编 纪雪娟 主持校注
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