| 字段 | 字段内容 |
|---|---|
| 001 | 01h0090508 |
| 005 | 20160706141330.0 |
| 010 | $a: 978-7-04-043150-6$b: 精装$d: CNY109.00 |
| 100 | $a: 20160222d2015 em y0chiy50 ea |
| 101 | $a: chi$c: eng |
| 102 | $a: CN$b: 110000 |
| 105 | $a: a a 001yy |
| 106 | $a: r |
| 200 | $a: 透射电子显微学$A: tou she dian zi xian wei xue$d: = Transmission electron microscopy$h: 上册$f: David B. Williams, C. Barry Carter著$g: 李建奇等译$z: eng |
| 210 | $a: 北京$c: 高等教育出版社$d: 2015 |
| 215 | $a: 592页$c: 图$d: 25cm |
| 225 | $a: 材料科学经典著作选译$A: cai liao ke xue jing dian zhu zuo xuan yi |
| 305 | $a: 据原书第2版译出 |
| 314 | $a: 责任者Williams规范汉译姓: 威廉斯; 责任者Carter规范汉译姓: 卡特 |
| 320 | $a: 有书目和索引 |
| 330 | $a: 本书对透射电子显微镜的构造、实验技术的原理和应用进行了介绍。全书共4篇，第1篇主要介绍一些与透射电子显微镜相关的基本概念，包括电子衍射的基础知识、仪器的构造与功能，以及透射电子显微镜样品的制备等；第2篇主要介绍电子衍射的基本原理、不同的电子衍射实验技术，以及对电子衍射的理论描述；第3篇主要介绍成像的基本原理和各种成像类型、不同的成像技术，以及对实验图像的处理、分析和理论模拟；第4篇主要介绍X射线能谱和电子能量损失谱的基本原理和应用，以及与之相关的各种实验技术。 |
| 410 | $1: 2001 $a: 材料科学经典著作选译 |
| 500 | $1: 0$a: Transmission electron microscopy$m: Chinese |
| 606 | $a: 透射电子显微术$A: tou she dian zi xian wei shu |
| 690 | $a: TN153$v: 5 |
| 701 | $a: 卡特$A: ka te$g: (Carter, C. Barry)$4: 著 |
| 702 | $a: 李建奇$A: li jian qi$4: 译 |
| 801 | $a: CN$b: BUCTL$c: 20160706 |
| 905 | $d: TN153$r: CNY109.00$e: 17 |
北京创讯未来软件技术有限公司 版权所有 ALL RIGHTS RESERVED 京ICP备 09032139
欢迎第42978461位用户访问本系统