• 透射电子显微学

  
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= Transmission electron microscopy .上册 /David B. Williams, C. Barry Carter著 ;李建奇等译

ISBN/ISSN：978-7-04-043150-6 精装

价格：CNY109.00

出版：北京 :高等教育出版社 ,2015

载体形态：592页 :图 ;25cm

丛编：材料科学经典著作选译

简介：本书对透射电子显微镜的构造、实验技术的原理和应用进行了介绍。全书共4篇，第1篇主要介绍一些与透射电子显微镜相关的基本概念，包括电子衍射的基础知识、仪器的构造与功能，以及透射电子显微镜样品的制备等；第2篇主要介绍电子衍射的基本原理、不同的电子衍射实验技术，以及对电子衍射的理论描述；第3篇主要介绍成像的基本原理和各种成像类型、不同的成像技术，以及对实验图像的处理、分析和理论模拟；第4篇主要介绍X射线能谱和电子能量损失谱的基本原理和应用，以及与之相关的各种实验技术。

统一题名：Transmission electron microscopy

中图分类号：TN153

责任者：威廉斯 ((Williams, David B.)) 著 卡特 ((Carter, C. Barry)) 著 李建奇 译

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