| 字段 | 字段内容 |
|---|---|
| 001 | 0100062364 |
| 005 | 20081125131032.0 |
| 010 | $a: 978-7-03-021490-4$d: CNY62.00 |
| 099 | $a: CAL 012008088853 |
| 100 | $a: 20080617d2008 ekmy0chiy0121 ea |
| 101 | $a: chi$c: eng |
| 102 | $a: CN$b: 110000 |
| 105 | $a: ak a 000yy |
| 106 | $a: r |
| 200 | $a: 集成电路系统设计、验证与测试$A: ji cheng dian lu xi tong she ji yan zheng yu ce shi$f: (美) Louis Scheffer, Luciano Lavagno, Grant Martin著$g: 陈力颖, 王猛译 |
| 210 | $a: 北京$c: 科学出版社$d: 2008 |
| 215 | $a: xiv, 475页$c: 图$d: 26cm |
| 225 | $a: 集成电路EDA技术$A: ji cheng dian lu EDA ji shu |
| 314 | $a: 责任者(Scheffer)、(Lavagno)、(Martin)规范汉译姓：谢弗，拉瓦尼奥，马丁 |
| 320 | $a: 有书目 |
| 410 | $1: 2001 $a: 集成电路EDA技术 |
| 517 | $a: 集成电路系统设计验证与测试$A: ji cheng dian lu xi tong she ji yan zheng yu ce shi |
| 606 | $a: 集成电路$A: ji cheng dian lu$x: 电路设计 |
| 690 | $a: TN402$v: 4 |
| 701 | $a: 马丁$A: ma ding$g: (Martin, Grant)$4: 著 |
| 702 | $a: 王猛$A: wang meng$4: 译 |
| 801 | $a: CN$b: BUPT$c: 20080620 |
| 905 | $a: BUCTL$b: C837495-6$r: CNY62.00$d: TN402$e: 15 |
| 999 | $a: jt$b: 2$e: 200856 |
北京创讯未来软件技术有限公司 版权所有 ALL RIGHTS RESERVED 京ICP备 09032139
欢迎第106421249位用户访问本系统