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/(美) Louis Scheffer, Luciano Lavagno, Grant Martin著 ;陈力颖, 王猛译

ISBN/ISSN：978-7-03-021490-4

价格：CNY62.00

出版：北京 :科学出版社 ,2008

载体形态：xiv, 475页 :图 ;26cm

丛编：集成电路EDA技术

其他题名：集成电路系统设计验证与测试

中图分类号：TN402

责任者：谢弗 ((Scheffer, Louis)) 著 拉瓦尼奥 ((Lavagno, Luciano)) 著 马丁 ((Martin, Grant)) 著 陈力颖 译 王猛 译

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