| 字段 | 字段内容 |
|---|---|
| 001 | 0100049234 |
| 005 | 20071102093540.0 |
| 010 | $a: 978-7-5603-1338-2$d: CNY23.80 |
| 100 | $a: 20070723d1998 em y0chiy0120 ea |
| 101 | $a: chi |
| 102 | $a: CN$b: 230000 |
| 105 | $a: ak z 000yy |
| 106 | $a: r |
| 200 | $a: 材料分析测试技术$A: cai liao fen xi ce shi ji shu$e: 材料X射线衍射与电子显微分析$f: 周玉, 武高辉编著 |
| 210 | $a: 哈尔滨$c: 哈尔滨工业大学出版社$d: 1998 |
| 215 | $a: 283页$c: 图$d: 26cm |
| 225 | $a: 材料科学与工程丛书$A: cai liao ke xue yu gong cheng cong shu |
| 330 | $a: 本书介绍了X射线衍射和电子显微技术分析材料微观组织结构的原理、设备及试验方法。内容包括：X射线衍射方向与强度、多晶体分析方法及X射线衍射仪、物相分析、宏观应力测定等。 |
| 410 | $1: 2001 $a: 材料科学与工程丛书 |
| 517 | $a: 材料X射线衍射与电子显微分析$A: cai liao X she xian yan she yu dian zi xian wei fen xi |
| 606 | $a: 金属材料$A: jin shu cai liao$x: 电子显微镜分析$x: 高等学校$j: 教材 |
| 690 | $a: TG115.21$v: 4 |
| 701 | $a: 武高辉$A: wu gao hui$4: 编著 |
| 801 | $a: CN$b: CEPC1$c: 20070723 |
| 905 | $a: BUCTL$b: C808409-12$r: CNY23.80$d: TG115.23$e: 12 |
| 999 | $a: ftq$b: 4$e: 200750 |
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