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材料分析测试技术
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:材料X射线衍射与电子显微分析 /周玉, 武高辉编著
ISBN/ISSN：978-7-5603-1338-2
价格：CNY23.80
出版：哈尔滨 :哈尔滨工业大学出版社 ,1998
载体形态：283页 :图 ;26cm
丛编：材料科学与工程丛书
简介：本书介绍了X射线衍射和电子显微技术分析材料微观组织结构的原理、设备及试验方法。内容包括：X射线衍射方向与强度、多晶体分析方法及X射线衍射仪、物相分析、宏观应力测定等。
其他题名：材料X射线衍射与电子显微分析
中图分类号：TG115.23 TG115.21
责任者：周玉 编著 武高辉 编著
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豆瓣内容简介：
《材料分析测试技术》介绍了用x射线衍射和电子显微技术分析材料微观组织结构的原理、设备及试验方法。内容包括：x射线衍射方向与强度、多晶体分析方法及x射线衍射仪、物相分析、宏观应力测定、透射电镜结构与原理、复型技术、电子衍射、衍衬成像、扫描电镜结构与原理、电子探针显微分析等。同时，简要介绍了离子探针、低能电子衍射、俄歇电子能谱仪、扫描隧道与原子力显微镜及x射线光电子能谱仪等显微分析方法，并附有实验指导书和附录。书中的实例分析注重引入了材料微观组织结构分析方面的新成果。
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