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010 $a: 978-7-122-43276-6$b: 精装$d: CNY198.00
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101 $a: chi$c: ger
102 $a: CN$b: 110000
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106 $a: r
200 $a: 半导体先进光刻理论与技术$A: ban dao ti xian jin guang ke li lun yu ji shu$f: (德) 安德里亚斯·爱德曼著$d: = Optical and EUV lithography: a modeling perspective$f: Andreas Erdmann$g: 李思坤译$z: eng
210 $a: 北京$c: 化学工业出版社$d: 2023
215 $a: 304页$c: 图 (部分彩图)$d: 24cm
300 $a: 芯科技
320 $a: 有书目
330 $a: 本书是半导体先进光刻领域的综合性著作, 介绍了当前主流的光学光刻、先进的极紫外光刻以及下一代光刻技术。主要内容涵盖光刻理论、工艺、材料、设备、关键部件、分辨率增强、建模与仿真、典型物理与化学效应等 ; 介绍了光刻技术的前沿进展, 还总结了极紫外光刻的特点、存在问题与发展方向。书中融入了作者对光刻技术的宝贵理解与认识, 是作者多年科研与教学经验的结晶。
510 $a: Optical and EUV lithography: a modeling perspective$z: eng
606 $a: 半导体光电器件$A: ban dao ti guang dian qi jian$x: 光刻设备$x: 研究
690 $a: TN305.7$v: 5
701 $a: 爱德曼$A: ai de man$g: (Erdmann, Andreas)$4: 著
702 $a: 李思坤$A: li si kun$4: 译
801 $a: CN$b: BUCTL$c: 20231116
905 $d: TN305.7$r: CNY198.00$e: 8

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