字段 字段内容
001 01h1316553
005 20230629154735.0
010 $a: 978-7-122-40397-1$d: CNY46.00
100 $a: 20220310d2022 em y0chiy50 ea
101 $a: chi
102 $a: CN$b: 110000
105 $a: afk a 000yy
106 $a: r
200 $a: 材料分析测试技术$A: cai liao fen xi ce shi ji shu$d: = Analytic and testing technology of materials$f: 刘洪权主编$z: eng
210 $a: 北京$c: 化学工业出版社$d: 2022
215 $a: 219页, [6] 页图版$c: 图$d: 26cm
320 $a: 有书目
330 $a: 本书介绍了材料物相结构、缺陷、形貌、成分分析中有典型代表性的分析测试技术,包括X射线衍射分析(物相晶体结构种类及含量)、电子衍射分析、电子显微分析技术、扫描电镜分析技术、电子探针分析技术、热分析等分析测试方法及应用技术;拓展性地介绍了Rietveld全谱拟合结构精修技术、X射线单晶衍射分析、X射线荧光分析、吸收谱分析、复杂衍射斑点分析、莫尔条纹分析技术。
510 $a: Analytic and testing technology of materials$z: eng
606 $a: 金属材料$A: jin shu cai liao$x: 电子显微镜分析
690 $a: TG115.23$v: 5
701 $a: 刘洪权$A: liu hong quan$4: 主编
801 $a: CN$b: BUCTL$c: 20230629
905 $d: TG115.23$r: CNY46.00$e: 14$a: BUCTLIB

北京创讯未来软件技术有限公司 版权所有 ALL RIGHTS RESERVED 京ICP备 09032139

欢迎第107656437位用户访问本系统

0