| 字段 | 字段内容 |
|---|---|
| 001 | 01h0087610 |
| 005 | 20160505140512.0 |
| 010 | $a: 978-7-03-047222-9$b: 精装$d: CNY128.00 |
| 100 | $a: 20160323d2016 em y0chiy50 ea |
| 101 | $a: chi |
| 102 | $a: CN$b: 110000 |
| 105 | $a: af a 001yy |
| 106 | $a: r |
| 200 | $a: 半导体光谱测试方法与技术$A: ban dao ti guang pu ce shi fang fa yu ji shu$f: 张永刚, 顾溢, 马英杰著 |
| 210 | $a: 北京$c: 科学出版社$d: 2016.01 |
| 215 | $a: 331页, [2] 页图版$c: 图$d: 25cm |
| 225 | $a: 半导体科学与技术丛书$A: ban dao ti ke xue yu ji shu cong shu$v: 31 |
| 320 | $a: 有书目和索引 |
| 330 | $a: 本书首先介绍了光谱学和光谱仪器的发展概况和基本原理, 分析了半导体材料、器件及其应用研究工作以及相关研制和生产中对光谱测试的需求, 然后论述各种光谱仪器的分类及其工作原理, 分别探讨基于分光光谱仪和傅里叶变换光谱仪等的光谱测量系统, 包括其各部分的组成、性能参数要求和搭建实际系统应注意的问题等。 |
| 410 | $1: 2001 $a: 半导体科学与技术丛书$v: 31 |
| 606 | $a: 半导体$A: ban dao ti$x: 光谱分析 |
| 690 | $a: O472$v: 5 |
| 701 | $a: 马英杰$A: ma ying jie$4: 著 |
| 801 | $a: CN$b: BUCTL$c: 20160505 |
| 905 | $a: BUCTLIB$d: O472$r: CNY128.00$e: 7 |
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