| 字段 | 字段内容 |
|---|---|
| 001 | 01h0014810 |
| 005 | 20100901155126.0 |
| 010 | $a: 978-7-121-10579-1$d: CNY49.00 |
| 100 | $a: 20100526d2010 em y0chiy50 ea |
| 101 | $a: chi$c: eng |
| 102 | $a: CN$b: 110000 |
| 105 | $a: ak a 000yy |
| 106 | $a: r |
| 200 | $a: 集成电路的电磁兼容$A: ji cheng dian lu de dian ci jian rong$e: 低发射、低敏感度技术$d: = Electromagnetic compatibility of integrated circuits$e: techniques for low emission and susceptibility$f: (法) Sonia Ben Dhia, Mohamed Ramdani, Etienne Sicard等编著$g: 王洪博, 孙倩, 李炜等译$z: eng |
| 210 | $a: 北京$c: 电子工业出版社$d: 2010 |
| 215 | $a: 13, 280页$c: 图$d: 26cm |
| 225 | $a: 国外电子与通信教材系列$A: guo wai dian zi yu tong xin jiao cai xi lie |
| 306 | $a: 本书中文简体版专有出版权由Springer-Verlag GmbH授权出版 |
| 314 | $a: CIP题责任者Dhia汉译姓: 齐亚 ; 责任者Ramdani规范汉译姓为: 拉姆达尼; 责任者Sicard规范汉译姓: 西卡尔 |
| 320 | $a: 有书目 |
| 330 | $a: 本书的宗旨是综述集成电路的电磁兼容现象，介绍最新的EMC测量方法和EMC建模方法。本书给出了集成电路辐射和敏感度的历史与现状、基本概念及原理，并通过各种案例给出了详细的建模方法、测量方法，以及一些企业和科研实验室的仿真与测量结果，有助于集成电路和电子系统设计人员减少IC和电子系统的寄生发射，以及对射频干扰的敏感度。 |
| 410 | $1: 2001 $a: 国外电子与通信教材系列 |
| 500 | $1: 0$a: Electromagnetic compatibility of integrated circuits : techniques for low emission and susceptibility$m: Chinese |
| 517 | $a: 低发射、低敏感度技术$A: di fa she di min gan du ji shu |
| 606 | $a: 集成电路$A: ji cheng dian lu$x: 电磁兼容性$j: 教材 |
| 690 | $a: TN402$v: 4 |
| 701 | $a: 西卡尔$A: xi ka er$g: (Sicard, Etienne)$4: 编著 |
| 702 | $a: 李炜$A: li wei$4: 译 |
| 801 | $a: CN$b: BUCTL$c: 20100901 |
| 905 | $a: BUCTL$d: TN402$r: CNY49.00$e: 26 |
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