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010 $a: 978-7-312-02290-6$d: CNY38.00
100 $a: 20090304d2009 ekmy0chiy0121 ea
101 $a: chi
102 $a: CN$b: 340000
105 $a: a a 000yy
106 $a: r
200 $a: 微分析物理及其应用$A: wei fen xi wu li ji qi ying yong$f: 丁泽军 ... [等]编著
210 $a: 合肥$c: 中国科学技术大学出版社$d: 2009
215 $a: 369页$c: 图$d: 24cm
304 $a: 题名页题:丁泽军, 吴自勤, 孙霞, 张人佶, 编著
320 $a: 有书目
330 $a: 本书的主要内容包括电子显微学和电子束微分析、扫描探针显微术,以及和电子束微分析关联较多的表面分析、离子束微分析和X射线束微分析。
606 $a: 电子显微镜分析$A: dian zi xian wei jing fen xi
690 $a: O657.99$v: 4
701 $a: 张人佶$A: zhang ren ji$4: 编著
801 $a: CN$b: 三新书业$c: 20090523
905 $a: BUCTL$b: C858362-4$r: CNY38.$d: O657.99$e: 11
999 $a: sl$b: 3$e: 200938

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