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/饶宇编著

ISBN/ISSN:978-7-313-29858-4

价格:CNY49.00

出版:上海 :上海交通大学出版社 ,2023.12

载体形态:155页 :图 ;24cm

简介:本书较全面地介绍了液晶热像测试技术的原理、装置以及应用方法, 剖析了传热测量误差的影响因素, 并结合实验案例介绍了液晶热像在复杂结构表面传热测量中的应用。主要内容包括热色液晶的物理化学性质, 液晶热像温度测量原理, 液晶热像测量装置、校准及测量误差分析, 以及液晶热像对复杂结构全表面传热测量的具体应用。

中图分类号:TN216

责任者:饶宇 编著

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