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X射线多晶衍射数据Rietveld精修及GSAS软件入门
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/郑振环, 李强编著
ISBN/ISSN：978-7-5160-1456-1
价格：CNY38.60
出版：北京 :中国建材工业出版社 ,2016
载体形态：113页 :图 ;24cm
简介：本书共分为四章，侧重从操作示例介绍Rietveld法的基本原理和精修过程。第1章简要介绍Rietveld法的发展概况和基本原理。第2章介绍精修软件EXPGUI-GSAS的安装和使用界面。第3章介绍Rietveld法X射线多晶衍射数据的实验测试，并以简单例子演示EXPGUI-GSAS精修过程以及结果的提取和图谱绘图。第4章给出了三个提高练习示例，包括创建仪器参数文件、含非晶混合物的定量分析以及占位修正等。
并列题名：Introduction to rietveld refinement with X-ray powder diffraction data and GSAS software
中图分类号：O721
责任者：郑振环 编著 李强 编著
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豆瓣内容简介：
Rietveld法全谱拟合已成为x射线多晶衍射修正晶体结构的重要方法。郑振环、李强编著的《X射线多晶衍射数据Rietveld精修及GSAS软件入门》共分为四章，侧重从操作示例介绍Rietveld法的基本原理和精修过程。第1章简要介绍Rietveld法的发展概况和基本原理。第2章介绍精修软件EXPGUI-GSAS的安装和使用界面。第3章介绍：Rietreid法x射线多晶衍射数据的实验测试，并以简单例子演示EXPGUI-GSAS精修过程以及结果的提取和图谱绘图。第4章给出了三个提高练习示例，包括创建仪器参数文件、含非晶混合物的定量分析以及占位修正等。
本书具有很强的实用性，可以作为材料、化学以及地质等领域学习X射线多晶衍射Rietveld法结构精修和GSAS软件的研究人员的入门参考书，也可以作为本科生、研究生教学的实验教材。
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