借阅：22人 收藏：0人

/蓝闽波等编

ISBN/ISSN：978-7-5628-2221-9

价格：CNY28.00

出版：上海 :华东理工大学出版社 ,2009

载体形态：227页 :图 ;23cm

附注：“十一五”国家重点图书 上海紧缺人才培训工程

简介：全书共分十章，主要介绍了纳米材料常用测试技术的原理、方法、仪器，主要包括理化性能测试的通用仪器，如X射线衍射仪、电子显微镜及粒度分析仪、比表面分析仪、扫描探针显微镜（SPM）和力学测试仪等。

中图分类号：TB383

责任者：蓝闽波 编 印纽斯基 ((Iniewski, Krzysztof)) 编 刘明 译 吕杭炳 译

    • 评分：
    • 加入暂存架

豆瓣内容简介：

豆瓣作者简介：

分馆名 馆藏部门 图书条码 索书号 登录号 架位导航 卷期 状态
A 昌平馆科技图书区（三层） C860445 TB383/111 C860445 架位导航 在架可借
A 昌平馆科技图书区（三层） C860447 TB383/111 C860447 架位导航 在架可借
A 东区馆中文图书阅览区（二层） C860446 TB383/111 C860446 架位导航 在架可借
序号 图书条码 索书号 登录号 藏书部门 流通状态 年卷期 装订册 装订方式 装订颜色
    类型 说明 URL
    评 论
    评分：
    发表
    借阅关系图
    纳米材料测试技术
    热门检索信息
    扫描图书信息
    扫描图片信息到手机上，便于查找书架！
    借阅趋势
    相关资源
    相关图书
    >

    北京创讯未来软件技术有限公司 版权所有 ALL RIGHTS RESERVED 京ICP备 09032139

    欢迎第107331651位用户访问本系统