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扫描探针显微技术理论与应用
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= Scanning probe microscopy principles and applications /彭昌盛, 宋少先, 谷庆宝编著
ISBN/ISSN：978-7-122-00045-3
价格：CNY35.00
出版：北京 :化学工业出版社 ,2007
载体形态：222页 :图 ;24cm
简介：本书主要内容为显微镜的发展历史，扫描隧道显微镜，原子力微镜，扫描场光学显微镜，其他扫描探针显微镜，扫探针显微镜问题及解决方法等。
附注：高等院校相关专业师生
并列题名：Scanning probe microscopy principles and applications
中图分类号：TN16
科图分类号：79.871
责任者：彭昌盛 编著 宋少先 编著 谷庆宝 编著
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豆瓣内容简介：
扫描探针显微镜自20世纪80年代初出现以来，在短短20年的时间里，一直是各国科学家的研究热点，并迅速发展成为一个含20多个品种的庞大显微镜家族。
本书共分七章，依次向读者展现：
显微镜的发展历史；
系统介绍扫描隧道显微镜、原子力显微镜和扫描近场光学显微镜等扫描探针显微镜的主要成员；
扼要介绍磁力显微镜、静电力显微镜等其他类扫描探针显微镜；
阐述扫描探针显微镜使用过程中可能遇到的一些问题及相应的处理方法；
论述扫描探针显微镜在各方面的应用。
本书可供显微镜专业操作和研究人员阅读，也可以作为纳米材料、生命科学、医学等专业领域的教材及相关研究人员的参考书。
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